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半导体粉末电阻率测试仪报价

  • 型   号:FZ-2006A
  • 价   格:15560

半导体粉末电阻率测试仪报价型号:TP28-FZ-2006A
粉末测量:

①.试样粒度:标准筛网40目以上直至纳米材料。

②.试样容器:内腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜(可选件)。

③.试样高度:6--20㎜±0.1㎜;测量误差±0.1㎜。

④.取样压力:8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。压力量程0--200㎏可调。

8.电源:交流220V±10%,50HZ

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半导体粉末电阻率测试仪报价半导体粉末电阻率测试仪报价 型号:TP28-FZ-2006A库号:M348870   



1.测量范围:电阻率10-2 -103Ω㎝。


2.小电阻分辨率:0.1mΩ。


3.测量:0.3%读数±2字。


4.数字电压表:3档量程(20mV200mV2V)。


5.直流恒流源:5档量程(10μA100μA1mA10mA100mA)。


6.显示:3½位数字显示0--1999,自动显示小数点、单位、极性和过载。


7. 粉末测量:


①.试样粒度:标准筛网40目以上直至纳米材料。


②.试样容器:内腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜(可选件)。


③.试样高度:6--20㎜±0.1㎜;测量误/差±0.1㎜。


④.取样压力:8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。压力量程0--200㎏可调。


8.电源:交流220V±10%,50HZ或60HZ,功率﹤50W。


9.电气箱外形尺寸:440×320×120㎜。


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