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四探针测试仪报价

  • 型   号:ST2258C+ST2258B-F02+SZT-C
  • 价   格:9860

四探针测试仪报价
1 可测片料块料或棒料等。*小样品尺寸 4mm×10mm,*大平面尺寸和厚度,由所配测试台

决定,手持探头方式不限。

2 .1 探 针 间 距:直线二针分布, 间距 10.0mm。

2.2 探针机械游移率: ±0.5%。

2.3 探 针:镀镍合金,Φ4.0mm。

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四探针测试仪报价四探针测试仪报价  型号:ST2258C+ST2258B-F02+SZT-C库号:M405647   

一 、ST2258C 主机 技术参数


1. 测量范围、分辨率


电 阻:10.0×10 -6 ~ 200.0×10 3 Ω, 分辨率 1.0×10 -6 ~ 0.1×10 3 Ω


电 阻 率:10.0×10 -6 ~ 200.0×10 3 Ω-cm 分辨率 1.0×10 -6 ~ 0.1×10 3 Ω-cm


方块电阻:50.0×10 -6 ~ 900.0×10 3 Ω/□ 分辨率 5.0×10 -6 ~ 0.5×10 3 Ω/□


2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)


直 径: SZT-C 测试台直接测试方式 180mm×180mm


3.3 量程划分及误差等级


满 度 显 示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00


测 试 电 流 0.1μA 1.0μA 10μA 100μ


A


1.0mA 10mA 100mA 1.0A


常 规 量 程 kΩ-cm/



kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□


基 本 误 差


±


2%FSB


±1.5%FSB


±4LSB


±0.5%FSB±2LSB ±1.0%FSB


±4LSB


3.4. 电源


输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W


二、ST2558B-F02 型箔上涂层电阻率/方阻探头


有圆柱平头形合金探针,配以四探针仪器和测试台,用以测试金属箔上涂层电阻率/方阻。


基本组成 :成套探头有探针、探针座、手持式外套、测试台连接单元,仪器连接线缆等部件组


成。




主要技术参数及说明


1 可测片料块料或棒料等。*小样品尺寸 4mm×10mm,*大平面尺寸和厚度,由所配测试台


决定,手持探头方式不限。


2 .1 探 针 间 距:直线二针分布, 间距 10.0mm。


2.2 探针机械游移率: ±0.5%。


2.3 探 针:镀镍合金,Φ4.0mm。


2.4 压 力: 0~1000g 可调,额定压力约 500g。


三、ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针探头 电阻率/方阻探头


直线 2+2+2 mm 针距,有球形尖镀金磷铜合金探针,配以四探针仪器和测试台,用以测试柔性材料导电薄


膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO 膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。


基本组成:成套探头有可拆换式探针、探针座、手持式外套、测试台连接单元,仪器连接线缆等部件组成。


主要技术参数及说明


1 可测片料块料或棒料等。*小样品尺寸 3mm×10mm,*大平面尺寸和厚度,由所配测试台决定,手持探头


方式不限。


2 .1 探 针 间 距:直线 2+2+2 mm 针距。


2.2 探针机械游移率: ±0.5%。


2.3 探 针:镀金磷铜合金,Φ0.75mm。


2.4 压 力: 0~500g 可调,额定压力约 400g。


3 探针为可快捷拆换型,方便线频繁使用。


四、SZT-C 型四探针测试台


是用来装夹四探针探头,连接四探针测试仪器,放置样品,进行手动方式测试的机具。是四探


针法测试电阻率/方块电阻(方阻)仪器的配套测量装置(以下简称测试台)。


基本组成:主要有载物台(180mmX180mm 净载物面积)、双轨垂直导向单元、测试压力调节单元、探


头快速升降扳手(顶部戴红套部分)、探头连接板等单元。


可测半导体材料尺寸 (探头手持方式不限)


直径或边长:SZT-C 测试台直接测试方式 Φ15~180mm,或 180mm×180mm。


长(或高)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.


测量方位: 轴向、径向均可







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