晶闸管综合测试仪

• 型   号：DBC-021/DBC-025
• 价   格：

该测试仪是符合国标GB4023-83《半导体器件整流二极管的测试方法》和GB-4024-83《半导体反向阻断三极晶闸管的测试方法》，能测试各种晶闸管（KP、KK、KA、KS）及晶闸管模块的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM与各种整流二极管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等参数。线路设计简洁精炼，采用单片机控制， 晶闸管综合测试仪

订购留言

分享到：

晶闸管综合测试仪  晶闸管综合测试仪

该测试仪是符合国标GB4023-83《半导体器件整流二极管的测试方法》和GB-4024-83《半导体反向阻断三极晶闸管的测试方法》，能测试各种晶闸管（KP、KK、KA、KS）及晶闸管模块的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM与各种整流二极管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等参数。线路设计简洁精炼，采用单片机控制，具有体积小、重量轻、操作简单、测试准确、保护和维修方便等特点，是晶闸管及整流管器件生产厂、经销商及整机厂检测器件伏安特性参数为理想的专用检测设备

主要技术指标：

1．峰值电压测量范围：0—3000V、0—4500V、0—6000V、0—9000V
2．峰值漏电流测量范围：0—100mA、0—200mA
3．峰值漏电流保护设定范围：0—99mA、0—198mA
4．机内示波器可观看动态峰值电压与峰值漏电流的变化伏安特性曲线波形

该测试仪是符合国标GB4023-83《半导体器件整流二极管的测试方法》和GB-4024-83《半导体反向阻断三极晶闸管的测试方法》，能测试各种晶闸管（KP、KK、KA、KS）及晶闸管模块的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM与各种整流二极管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等参数。线路设计简洁精炼，采用单片机控制，具有体积小、重量轻、操作简单、测试准确、保护和维修方便等特点，是晶闸管及整流管器件生产厂、经销商及整机厂检测器件伏安特性参数为理想的专用检测设备

主要技术指标：

1．峰值电压测量范围：0—3000V、0—4500V、0—6000V、0—9000V
2．峰值漏电流测量范围：0—100mA、0—200mA
3．峰值漏电流保护设定范围：0—99mA、0—198mA
4．机内示波器可观看动态峰值电压与峰值漏电流的变化伏安特性曲线波形