返回首页 在线留言 联系我们
18101026181

产品目录

联系方式

北京中西华大科技有限公司
联系人:李经理
手机:18101026181
电话:18101026181
传真:010-62981256
地址:北京市平谷区兴谷经济开发区6区201-21228
邮编:100085
网址:www.bjzxyds3.com
邮箱:3004715684@qq.com
首页 > 产品展示 > > > 多功能激光椭圆偏振仪 库号:M351615

产品中心

多功能激光椭圆偏振仪 库号:M351615

  • 型   号:型号:ZXWJZ-II
  • 价   格:15600

实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台,测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -3

分享到:

实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台,测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°,
游标读数0.10。
测量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ,K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数: 0,空气折射率1。
●半导体激光器波长λ = 635nm。

实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台,测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°,
游标读数0.10。
测量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ,K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数: 0,空气折射率1。
●半导体激光器波长λ = 635nm。

实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台,测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°,
游标读数0.10。
测量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ,K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数: 0,空气折射率1。

●半导体激光器波长λ = 635nm。

实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台,测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°,
游标读数0.10。
测量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ,K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数: 0,空气折射率1。

●半导体激光器波长λ = 635nm。

实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台,测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°,
游标读数0.10。
测量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ,K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数: 0,空气折射率1。
●半导体激光器波长λ = 635nm。

实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台,测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°,
游标读数0.10。
测量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ,K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数: 0,空气折射率1。
●半导体激光器波长λ = 635nm。

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
网站首页 公司简介 产品中心 应用案例 技术支持 企业动态 联系我们
主营产品导航:其他专用仪器仪表;其他专用设备;水质分析仪;气体分析仪;气象仪器;其他电工及自动化仪表;测试仪;过滤器;PH计;传感器;采样器;实验室设备;萃取设备;真空干燥机;激光测距仪;臭氧发生器;粘度计;牛奶分析仪;热像仪;发烟笔
北京中西华大科技有限公司 版权所有 总访问量:1391347
电话:18101026181 传真:010-62981256 地址:北京市平谷区兴谷经济开发区6区201-21228
GoogleSitemap 网址:www.bjzxyds3.com 技术支持:智能制造网 ICP备案号:
联系人: 李经理
电话:
18101026181
手机:
18101026181
点击这里给我发消息
 

智能制造网

推荐收藏该企业网站